近場探頭測試
更新時(shí)間:2024-02-02 點(diǎn)擊次數(shù):587
輻射發(fā)射的測試一般是使用校準(zhǔn)過的天線進(jìn)行遠(yuǎn)場的測試,可以準(zhǔn)確的高速我們被測件是否符合相應(yīng)的EMI標(biāo)準(zhǔn)。但是遠(yuǎn)場的結(jié)果對于問題的查找不是很方便,我們通常無法從遠(yuǎn)場測試的結(jié)果來判斷被測件超標(biāo)的源頭,是某個(gè)芯片導(dǎo)致的,還是內(nèi)部某條電源走線導(dǎo)致的。在這種情況下,近場探頭和便攜式頻譜儀便成為工程師經(jīng)常使用的手段。近場探頭
近場探頭分為電場探頭和磁場探頭。電場探頭在理想情況下只響應(yīng)電場分量,主要用于檢測電壓,電場探頭的方向并不重要,而且在物理尺寸上一般都比較小,探頭越小,能夠探測的區(qū)域就越小。磁場探頭一般為環(huán)形(也有很小的是一根桿的),在理想情況下只響應(yīng)磁場分量,主要用于檢測電流,更大的環(huán)能夠接收越多的磁通量,靈敏度越高,小環(huán)具有更高的空間分辨率,適用于具體定位,同時(shí)磁場探頭的方向很重要,如下圖。和近場探頭配合使用的一般還有前置放大器,因?yàn)榻鼒鎏筋^接收的信號信噪比一般很低,因此,使用前置放大器對信號電平進(jìn)行放大。一般以下幾種情形下,需要使用到前置放大器。一是輻射水平很低的時(shí)候,二是接收設(shè)備內(nèi)部的噪聲很高,三是使用小環(huán)進(jìn)行測試時(shí),小環(huán)的靈敏度很低。
相對測試
記住:近場探頭的測量結(jié)果和使用天線進(jìn)行遠(yuǎn)場測量的結(jié)果不能直接進(jìn)行數(shù)值等效。但是存在基本的關(guān)聯(lián):如果一個(gè)信號在遠(yuǎn)場被檢測到,那么它也可以在近場被檢測到。既遠(yuǎn)場輻射越大,則近場也必然越大。反之則不一定。所以近場探頭的測試實(shí)際上是一個(gè)相對測試,不是數(shù)值精確的絕對測試。作為相對測試,使用近場探頭進(jìn)行測試的時(shí)候,有一個(gè)參考是有必要的,通過被測件的測試結(jié)果和一個(gè)已知合格被測件或其他位置的近場測試結(jié)果進(jìn)行比較,來預(yù)測遠(yuǎn)場測試的結(jié)果。而不是使用近場測試的結(jié)果直接與EMI標(biāo)準(zhǔn)的限值線進(jìn)行比較。另外,近場探頭的絕對測試數(shù)值意義不大,因?yàn)檫@個(gè)結(jié)果受很多因素的影響,比如測試時(shí)探頭的距離、探頭的方向、探頭的大小等都會(huì)影響該測試結(jié)果。
在近場,電場和磁場共同存在,但大小可能差異很大,而且沒有固定的轉(zhuǎn)換關(guān)系。對于高電壓、小電流的噪聲源來說,電場遠(yuǎn)大于磁場,對于大電流、小電壓的的噪聲源來說,磁場遠(yuǎn)大于電場。另外,在近場的區(qū)域,磁場隨著距離的變化要快于電場。
最后
總之,近場探頭主要應(yīng)用于查找干擾源、對比干擾的強(qiáng)度。幫助工程師快速的查找干擾源,而不是絕對的精確測量。